粒度是粉體物料非常重要的特性之一，在粉碎工程的研究還有粉體產(chǎn)品的生產(chǎn)當(dāng)中，常常會用到諸如物料的平均粒度、粒度組成還有粒度分布等數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)就是通過各種的粒度測定方法得到的。

(1) 篩分分析方法

zui簡單的也是應(yīng)用zui早的粒度分析方法是篩分法。但是，由于現(xiàn)如今的標(biāo)準(zhǔn)篩(如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩)zui細(xì)的一般只到400目(相當(dāng)于38μm)，因此，對于小于10μm的超細(xì)粉體來說，不可能會用標(biāo)準(zhǔn)篩進(jìn)行粒度分析和檢測。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)也可以篩分小至5μm的粉體物料，但這種篩分技術(shù)由于篩分時間長和經(jīng)常發(fā)生堵塞，很少在分析中使用。

篩分分析就是利用篩孔大小不同的一套篩子進(jìn)行粒度分級。對于粒度小于100mm但是大于0.038mm的松散物料，一般會用篩分法來測定其粒度組成和粒度分布。

篩分分析所采用的套篩一般有兩種：一種為非標(biāo)準(zhǔn)篩，實(shí)驗(yàn)室是可以自己制造的，可以用于篩分粗粒物料。篩孔的大小一般為150、120、100、80、70、50、25、15、12、6、3、2、1mm等，根據(jù)需要確定。而另一種為標(biāo)準(zhǔn)套篩，可以用于篩分細(xì)粒物料，標(biāo)準(zhǔn)套篩就是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標(biāo)準(zhǔn)制造的篩子組。上層篩子的篩孔大，下層篩子的篩孔小，另外還有一個上蓋(防止試樣在篩分的過程中損失)和篩底(用來直接接取zui低層篩子的篩下產(chǎn)物)。

將標(biāo)準(zhǔn)篩按照篩孔由大到小，從上到下地排列起來，各個篩子所處的層位叫做篩序;在疊好的篩序中，每兩個相鄰的篩孔尺寸之比叫做篩比。有些標(biāo)準(zhǔn)篩會有一個作為基準(zhǔn)的篩子叫基篩，比如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩以200目篩子作為基篩。表1所列的幾種常見的標(biāo)準(zhǔn)篩。

粒度范圍是6mm至0.038mm物料的篩分分析，常用的實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)套篩進(jìn)行，可以用干法，也可以用濕法。如果對篩析的度要求不是特別嚴(yán)格，通常直接進(jìn)行干法篩析。但如果試樣含水、含泥較多，物料互相粘結(jié)時，應(yīng)采用干濕聯(lián)合篩析法，篩析得到的結(jié)果才比較。

(2) 其它粒度分析方法

當(dāng)今用于超細(xì)粉體粒度檢測的主要方法的沉降法(包括了重力沉降和離心沉降)、激光粒度分析儀、顯微鏡、庫爾特計數(shù)器還有用于測定比表面積的透過法和BET法。表2所列為這些方法的基本原理、測定范圍以及其主要特點(diǎn)。

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